變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀主要技術指標

準確度： Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀抗干擾指標：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度

電容量范圍： 內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV

外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV

分辨率： 高0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～5A

內(nèi)施高壓： 設定電壓范圍：0.5～10kV

大輸出電流：200mA

升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度： ±(1.5%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率： 1V

試驗頻率： 45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精度： ±0.01Hz

外施高壓： 正接線時大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

測量時間： 約40s，與測量方式有關

計算機接口： 標準RS232接口

打印機： 煒煌A7熱敏微型打印機

環(huán)境溫度： -10℃～50℃

相對濕度： <90%